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  • Particle Metric臺(tái)式電鏡粒度分析 電子顯微鏡
    Particle Metric臺(tái)式電鏡粒度分析 電子顯微鏡

    使用飛納臺(tái)式掃描電鏡的顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng),以快速、簡(jiǎn)便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析。飛納臺(tái)式電鏡粒度分析測(cè)量系統(tǒng)支持用戶收集多種亞微米顆粒的形態(tài)和尺寸數(shù)據(jù)。

    更新時(shí)間:2024-12-26型號(hào):Particle Metric瀏覽量:6701
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